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chroma 17208M-5-12C高精度充放電測(cè)試機(jī)
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| 發(fā)布時(shí)間：
2024/12/18 14:08:00 |
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電 話： |
86-0139-22871080 |
| 傳 真： |
86-0755-86652135 |
| 手 機(jī)： |
13922871080 |
| 郵 編： |
510008 |
| 地 址： |
深圳市南山區(qū)常興路1號(hào)順天大廈西座5A |
| 網(wǎng) 址： |
http://Michaelyang.cn.vooec.com |
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| 公司名稱：貝斯特(亞洲)實(shí)業(yè)有限公司 |
| 聯(lián) 系 人：楊聰/Michael 先生 銷售經(jīng)理 |
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chroma 17208M-5-12C高精度充放電測(cè)試機(jī) 詳細(xì)說(shuō)明 |
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chroma 17208M-5-12C高精度充放電測(cè)試機(jī)
何謂非侵入性分析
鋰離子電池芯劣化分析可歸納為侵入性(invasive)與非侵入性(non-invasive)分析，其中非侵入性分析具備以下優(yōu)勢(shì): (1)電池劣化的證據(jù)可被完整保留；(2)~大化降低外界因子對(duì)電池狀態(tài)的影響而新增變異；(3)可透過(guò)特定的量測(cè)儀器設(shè)備辨證已知的電池參數(shù)，并系統(tǒng)化歸類電池老化機(jī)理。因此，無(wú)論是在電池材料性能的評(píng)價(jià)、電池選型或電池劣化研究，皆被廣泛采用并獲得豐碩的成果。
典型的非侵入性劣化分析方法：差分電壓-增量分析(DV-ICA)
差分電壓(DV)與增量容量(IC)是常被用來(lái)進(jìn)行非侵入性的電池劣化機(jī)制手法之一。~常見(jiàn)的實(shí)施方法是在特定的循環(huán)老化次數(shù)后穿插DV-IC的劣化分析測(cè)試，并透過(guò)極低速率的充放電流(~C/25)將極化效應(yīng)~小化以獲得近似理想的OCV-Q關(guān)系，并藉由一階微分來(lái)繪制出DV及IC曲線，如下圖一曲線及特征峰會(huì)隨著電池老化的程度而產(chǎn)生偏移，對(duì)于 X-Y軸參數(shù)的偏移程度可被用來(lái)衡量電池劣化，也就是鋰離子存量損失(LLI)與活性材料損失(LAM)的程度，進(jìn)而推估潛在的老化機(jī)制，如下表一[4]。此外，由于高精密的DV曲線可以有效識(shí)別全電池中正負(fù)電極在特定電位相變化，借此來(lái)推斷正極與負(fù)極的劣化狀態(tài)，無(wú)須使用參考電極來(lái)辨證。
圖片
▲圖一、電池在不同循環(huán)充放電次數(shù)下DVA曲線變化示意圖
圖片
▲表一、IC-DV 曲線的變化與對(duì)應(yīng)的劣化指標(biāo)、潛在的老化機(jī)制和相關(guān)的效應(yīng)之間的關(guān)系
使用差分電壓-增量分析(DV-ICA)的挑戰(zhàn)
要高效率地取得精密的DV-IC曲線必須克服以下挑戰(zhàn)：
目前的充放電設(shè)備缺乏較高的電壓和電流精度和準(zhǔn)確度。
必須透過(guò)平滑算法清楚地辨識(shí)DV-IC曲線及其特征峰，且存在數(shù)據(jù)過(guò)度修 改和失真的風(fēng)險(xiǎn)。
針對(duì)不同材料體系電池創(chuàng)建平滑算法非常耗時(shí)。
Chroma的解決方案
若要~簡(jiǎn)易又快速地解決上述所面臨的問(wèn)題，~好的方式就是采用高精確度量測(cè)設(shè)備，除了讓電流全程輸出穩(wěn)定，確保長(zhǎng)時(shí)間電壓與電流量測(cè)具備超高質(zhì)量精準(zhǔn)度，更要~大化降低溫度與內(nèi)部量測(cè)噪聲的影響，以獲得清晰可辨的DV-IC曲線及特征峰。Chroma 17010系列為此應(yīng)用推出全新Model 17208M-5-12C超高精度充放電機(jī)，其量測(cè)精密度~高達(dá)<±0.001% of F.S.，為電池劣化評(píng)估提供更精準(zhǔn)且有效率的解決方案。
圖片
▲17208M-5-12C DV-IC曲線圖實(shí)測(cè)結(jié)果
本產(chǎn)品網(wǎng)址：http://www.btsbem.com/cpshow_224474138/
手機(jī)版網(wǎng)址：http://m.vooec.com/product_224474138.html
產(chǎn)品名稱：chroma 17208M-5-12C高精度充放電測(cè)試機(jī) |
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