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ITC55100 ITC75100晶體管圖示儀
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發(fā)布時間:
2024/12/18 14:08:00 |
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電 話: |
86-0139-22871080 |
傳 真: |
86-0755-86652135 |
手 機(jī): |
13922871080 |
郵 編: |
510008 |
地 址: |
深圳市南山區(qū)常興路1號順天大廈西座5A |
網(wǎng) 址: |
http://michaelyang.cn.vooec.com |
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公司名稱:貝斯特(亞洲)實(shí)業(yè)有限公司 |
聯(lián) 系 人:楊聰/Michael 先生 銷售經(jīng)理 |
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ITC55100 ITC75100晶體管圖示儀 詳細(xì)說明 |
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ITC55100 ITC75100晶體管圖示儀
ITC55100C 型號是~新一代的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)系列 ITC55100 測試儀。該系統(tǒng)是圍繞一個非常強(qiáng)大的微控制器設(shè)計(jì)的,它的時序分辨率為40ns,比前代型號快20倍。其對峰值和零電流的響應(yīng)時間提高了十倍。結(jié)合這一功能,可提高充電和雪崩時間以及報告的峰值排水電流的準(zhǔn)確性。
ITC55100C 型號具有雙極柵驅(qū)動器作為標(biāo)準(zhǔn)功能。用戶可以設(shè)置高達(dá) 30V 的總柵極驅(qū)動器,并可以選擇 30V 中有多少為正,有多少是負(fù)的。此功能可確保某些設(shè)備在雪崩期間保持狀態(tài)。
ITC55100C 執(zhí)行符合 MIL-STD-750E 方法 3470 的多種類型的測試。方法 3470 通過強(qiáng)調(diào) P 通道和 N 通道 MOSFET 和 IGBT 到受控能量水平來測試它們的能力。這是通過驅(qū)動未夾緊的電感負(fù)載的設(shè)備實(shí)現(xiàn)的。
•單/雙設(shè)備測試
• N 通道,P 通道,混合
• 所有固態(tài)開關(guān) • 無繼電器
• 40ns 的時序分辨率
• 電流范圍:0.1A 至 200A,0.1A 步長
• 阿瓦蘭奇電壓至 2500V
• 雙極柵驅(qū)動,帶 30V 回轉(zhuǎn)
• 新的高效開爾文電路
• 傳統(tǒng)的 UIL 模式(通過 GPIB)
• 觸摸屏程序輸入/控制
• 波形捕獲/顯示
• 內(nèi)部測試程序存儲(20 個文件)
• 高速電感充電,縮短測試時間
• 可編程泄漏測試電壓
• 阿瓦蘭切前/后泄漏測試
• 阿瓦蘭奇坍塌測試
• 多功能測試處理程序控制
• 多達(dá) 15 個硬件排序箱
• 提高電壓/電流精度
• 通過閃存下載進(jìn)行軟件更新
• 參數(shù)輸入的密碼控制
• 使用所有 ITC 電感負(fù)載箱運(yùn)行
• 與 ITC55MUX4 和 ITC55-RSF 的接口
• 簡單、完整的用戶校準(zhǔn)
• 內(nèi)置自檢 ITC75100 是一種增強(qiáng)的未夾式電感負(fù)載 (UIL) 測試系統(tǒng),它基于 ITC 行業(yè)領(lǐng)先的 ITC55 系列測試儀的成功,增加了額外的測試和測量能力。
ITC75100 對功率 MOSFET、IGBT 和二極管進(jìn)行堅(jiān)固性測試,這些測試符合 MIL-STD-750 方法 3470,通過強(qiáng)調(diào)它們達(dá)到受控的能量水平,由驅(qū)動未夾緊電感負(fù)載的設(shè)備完成。改進(jìn)的測試規(guī)范允許完全控制測試參數(shù)。
特征
• 平板電腦用戶界面,具有大顯示屏和增強(qiáng)的數(shù)據(jù)處理能力
• 低電流和快速電流波形功能
• 用于 DUT 和接口保護(hù)的內(nèi)部并行能量路徑
• 使用本地柵極驅(qū)動器測量 POD
• 帶 30V 總回轉(zhuǎn)的主動?xùn)艠O驅(qū)動
• 在測試前或測試后的指定延遲時間(高達(dá) 250μSec)之前,使用可編程電流源精確測量 Rdson 在指定電流級別下使用 Vf 雜物
• 單/雙(需要兩個 POD)設(shè)備測試
• 波形捕獲/顯示
• 測試處理程序控制和裝箱
• 內(nèi)置自檢
• 對所有測試儀測量的簡單用戶校準(zhǔn)
本產(chǎn)品網(wǎng)址:http://www.btsbem.com/cpshow_224474266/ 手機(jī)版網(wǎng)址:http://m.vooec.com/product_224474266.html 產(chǎn)品名稱:ITC55100 ITC75100晶體管圖示儀 |
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